新建破解可增强智能电子未来可靠性

大学本科生发现新方法萨里大学以淹没热载器撞击 扰动设备使用薄膜晶体管结构像太阳能板和智能观察

新建破解可增强智能电子未来可靠性

图像感想:GETTY

Lea Motte研究新设备多式晶体管替代传统薄膜晶体管,由博士候选Eva Bestelink和主管Dr.萨里大学拉杜斯波拉

Lea应用多式晶体管定义特征,隔离控件启动设备电子并使其能够穿透晶体管Lea使用计算机模拟发现选择右电压应用运输控制区可有助于预防不良热载效应,还保证流经晶体管保持广泛操作条件不变

Eva Bestelink博士生系统分析Lea多式晶体管奇异行为,用微晶体管测量并用综合设备模拟理解构件物理基础

研究报告亚博网站下载高级电子资料日记

突破意味着未来使用多式晶体管技术转而提高功率此外,还可能导致高性能放大器,这对生物传感器和环境传感器信号量化至关重要。

亚博网站下载我们现在更了解多式晶体管使用对正规设备构成多重挑战的材料时能提供什么电路设计师工作深入了解如何操作设备实现最优性能亚博网站下载从长远看,多式晶体管为新高性能材料提供替代方法,传统解决办法不再适用.

Eva Bestelink,萨里大学研究首席作者

显示Dr.Radu Sporea,萨里大学半导体设备高级讲师兼Lea项目和Eva项目主管这一新理解补充多功能多式晶体管的特征集并显示跨专业协作的价值 通过与Rennes多伙伴机构之一的密切交互,法兰西...

终于,再一次证明,在我们团队中,每个人's贡献可引出重要发展,即使是本科生正因如此,萨里,我们鼓励学生广博并挑战分配项目边界.

博士Radu Sporea半导体设备高级讲师,萨里大学

JournalReference:

最佳链接Eet al.2021禁止热载器特效 多式丁-Film晶体管架构亚博网站下载高级电子资料.doi.org/10.1002/aelm.202100533.

源码 :https://www.surrey.ac.uk/

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