CRAIC技术，世界领先的微分析解决方案创新者为其完美的视觉微光光学计线宣布光谱表面映射（S2M）功能。
S2M使CRAIC微光谱计用户能够通过微观空间分辨率绘制样品表面的光谱变化。可以使用紫外可见的-NIR传播，吸光度，发射，荧光和极化微光谱数据来创建表面曲线。S2M甚至可以从Craic Apollo Raman微光谱计的拉曼微光谱数据中创建地图。CRAIC微光谱仪现在可以快速自动地使用微米尺度分辨率创建高度详细的光谱图。
“ Craic Technologies由于客户的要求而努力开发光谱表面映射包。我们的客户希望能够通过其光谱特征自动调查和表征样品的整个表面。他们还想要一个高空间分辨率。” Paul Martin博士说。，Craic Technologies总裁。“ S2M软件包就是这样做的。它允许您通过用户定义的映射模式从数千点收集光谱数据。而且，由于我们的客户处理了许多不同类型的微光谱镜检查，因此我们使S2M能够映射UV可视化 - 可见 -NIR传播，吸光度，反射率，发射甚至是拉曼微光谱都具有相同的工具。”
光谱表面映射包括一个软件模块，该软件模块与CRAIC Technologies Minerva Microspectrometer Control软件一起使用。当使用具有可编程阶段的CRAIC Technologies微光谱仪使用时，S2M允许用户自动进行光谱测量值，并使用用户定义的映射模式达到阶段本身的范围。通过测量多达一百万个点的能力，可以生成样品表面的光谱响应的高清晰度图。由于软件的灵活性和功能，这些图可能来自传输，吸光度，反射率，荧光，发射甚至极化数据。
与CRAIC Technologies Apollo Raman微光谱仪一起使用时，甚至可以收集和映射拉曼光谱响应。S2M为科学家和工程师提供了更大的力量，以几种不同的方法和最高水平的细节来研究其样品的整个表面。