2009年2月10日
PANalytical公司,世界领先的x射线分析,将启动Omnian,其新standardless光谱仪分析方案,并将提供一个广泛的x射线荧光光谱仪谱和x射线衍射(XRD)解决方案2009 PITTCON会议及博览会(2009年3月8日至13日,芝加哥,美国)。
参观展台1703/1803可以探索PANalytical最先进的系统使用创新的三维交互式产品模拟。
PANalytical专家将现场展示公司的分析x射线的解决方案,包括改进的工业流程优化和环境监测。实验室人员石化、矿业和金属行业将会发现领域致力于在他们的领域的最新发展。公司的流行Axios WDXRF系统也将展出。
新Omnian standardless光谱仪分析包是专为快速量化样本或情况不明的认证标准相匹配的特定样本特征并不可用。重要的应用包括样本筛选和失效分析,以及不同材料的比较。亚博网站下载
新的同时Axios快速光谱仪系统将显示为一个三维互动产品模型。开创性的技术确保了仪器提供无与伦比的速度和吞吐量常规分析和专用实时过程控制。Axios快速配备PANalytical先进SST-mAX x光管,它使用突破性ζ技术消除x光管老化强度的影响。
永远设置酒吧在X射线衍射系统的灵活性,X 'Pert PRO MPD也将功能作为交互显示的一部分。小角x射线散射的最新应用进展(粉煤灰)pair-distribution函数(PDF),传输,non-ambient都将提出解决方案。
此外,PANalytical光谱仪和XRD管将最新的技术。为广泛的设计要求应用程序,这些管提供了改进的首选,完全符合RoHS和确立标准。
PANalytical布斯还将拥有一个小剧院区,10 - 15分钟的旋转时间表mini-seminars行业解决方案和产品创新。请访问我们的展台1703/1803参加会议。