2008年12月26日
范的新麦哲伦™极端高分辨率扫描电子显微镜(XHR SEM)允许科学家和工程师快速看到3 d表面图像在许多不同的角度和决议一个纳米以下(大小的十个氢原子,并排)。最重要的是,麦哲伦XHR SEM图像样本以非常低的光束能量,避免扭曲,否则引起的光束穿透到下面的材料。
范麦哲伦极端高分辨率扫描电子显微镜。
范成像,提供最具创新解决方案描述和原型在纳米尺度上。该公司最先进的TEM、SEM和DualBeam™解决方案创建专门为材料科学、生命科学和采矿。亚博网站下载亚博老虎机网登录请访问范Pittcon 2009 1642年展位了解更多关于麦哲伦和其他高分辨率显微技术。