纳米技术的Imperia光致发光成像系统检测抑制产量的缺陷

本视频演示了来自纳米技术公司的Imperia光致发光(PL)成像系统的功能。该PL系统使用其独特的光学设计技术,以检测和分类产量扼杀缺陷和妨害缺陷,同时PL生产监测的额外好处。它结合了MOCVD反应器收率和PM计划,以减少fab空间使用和盒式处理时间。Imperia在材料表征领域有广泛的应用,并通过提高工艺和节省大量成本,从商业和技术角度提供了优势。

时间:2:08分钟

来自纳米的Imperia光致发光(PL)成像系统

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