HORIBA公司的XGT-9000 x射线分析显微镜是μXRF技术的发展。该显微镜提供了提高灵敏度和新的成像技术的组合,以实现高速分析的外来材料使用一个单一单元。亚博网站下载
         特征
         
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           轻松分析操作,无需准备和非破坏性分析
           
 
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           提供一系列图像分析软件
           
           
           
 
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           即使在微观范围内,也可以通过高精度光学观察快速访问测量点
           
           
           
           
           
 
         
         
         
          xgt - 9000
          
         
         
         视频来源:HORIBA Scientific
         清晰高速图像映射
         
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           减少分析时间,确保有效的测量工作
           
           
           
           
           
           
           
 
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           具有非常有限的噪声X射线图像使得甚至更清晰地观察
           
           
           
           
           
           
           
           
           
 
         
         
         图片信用:Horiba Scientific
         清晰的光学图像观察和同轴X射线照射
         
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           配有三种类型的照明:传播,周围和同轴。同轴和周围照明允许清除具有镜像的区域的样品,不均匀等。
           
           
           
           
           
           
           
           
           
           
           
 
         
         
         图片信用:Horiba Scientific
         
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           同轴、垂直的x射线曝光和光学图像观察避免了样品测量位置的不对中而变得不均匀。
           
           
           
           
           
           
           
           
           
           
           
           
           
 
         
         
         图片信用:Horiba Scientific
         采用基于拉曼成像技术的成像技术
         特定元素被突出显示为特征点,从而简化了障碍物,异物等的检测。
         
         图片信用:Horiba Scientific
         外国物质分析的新解决方案
         XGT-9000通过成像处理使XGT-9000能够通过高速筛选和突出显示来快速检测异物。高分辨率X射线束允许精细分析构成异物的元素。这种异物分析序列可以在单个单元的帮助下进行,到几十微米的水平。
         
         图片信用:Horiba Scientific
         应用程序
         电影中的外来物质分析
         XGT-9000支持视觉确认、检测和分析甚至难以检测的外来物质,同时在元素映射筛选后以高分辨率验证光学观测图像。亚博网站下载
         
         图片信用:Horiba Scientific
         瓦液样品分析
         XGT-9000可以通过图像处理的帮助测量含水样品和检测外来物质。亚博网站下载
         
         图片信用:Horiba Scientific
         规格
         来源:HORIBA科学
         
          
           
            | 模型 | 
            xgt - 9000 | 
            xgt - 9000 sl | 
           
           
            | 基本信息 | 
           
           
            | 仪器 | 
            X射线荧光分析显微镜 | 
           
           
            | 样本类型 | 
            固体、液体、颗粒yabo214 | 
           
           
            | 可检测的元素 | 
            C *  -  AM *具有可选的光元件检测器(F  -  AM带标准探测器) | 
           
           
            | 可用的房间尺寸 | 
            (宽)x(深)x(高) | 
            1030(w)x 950(d)x 500(h) | 
           
           
            | 最大样本大小 | 
            300(宽)x 250(深)x 80(高) | 
            500(w)x 500(d)x 500(h) | 
           
           
            | 最大质量的样本 | 
            1公斤 | 
            10千克 | 
           
           
            | 光学观测 | 
            两个高分辨率相机,一个物镜 | 
           
           
            | 光学设计 | 
            垂直同轴X射线和光学观察 | 
           
           
            样品照明/ 观察 | 
            顶部,底部,侧面照明/明亮和黑暗的领域 | 
           
           
            | x光管 | 
           
           
            | 力量 | 
            50 W. | 
           
           
            | 电压 | 
            高达50 kV | 
           
           
            | 当前的 | 
            可达1ma | 
           
           
            | 目标材料 | 
            RH. | 
           
           
            | x射线光学 | 
           
           
            | 探针数量 | 
            到4 | 
           
           
            用于 光谱优化 | 
            5个职位 | 
           
           
            | 探测器 | 
           
           
            | x射线荧光检测器 | 
            硅漂移探测器(SDD) | 
           
           
            | 传输探测器 | 
            nai(tl) | 
           
           
            | 映射分析 | 
           
           
            | 映射区域 | 
            100 mm x 100 mm | 
            350 mm x 350 mm | 
           
           
            | 一步的大小 | 
            2毫米 | 
            4毫米 | 
           
           
            | 操作模式 | 
           
           
            | 样的环境 | 
            全真空/部分真空/ 环境条件/他清除条件(可选) | 
            部分真空/环境条件/他清除条件(可选)* *他吹扫条件是检测两个探测器的碳和氟的必要条件。 |