非描述性干膜宽度测量技术非元子串

膜厚度测量对各种制造和研究设施具有重要意义涂料或涂层厚度变化会影响对终端产品至关重要的多重属性,包括颜色、光滑、硬性、粘合和抓取阻抗

实现涂层预期属性需要实现正确的薄膜厚度多方法测量薄膜湿干相

湿膜厚度计同化学类和梳子类测量器一样,可确定涂层厚度后固化然而,在许多情况下,研究与质量控制部门试图确定涂层后排查厚度

阻抗性对立非描述性

用于测量干涂层厚度的工具可归为破坏性和非破坏性类反射膜厚度测试需要穿透基底涂层,常常使用专用刀片,然后检查显微镜下层以确定厚度

这种方法明显的缺陷是需要拆分测量产品,使其不那么有利反射膜厚度测算通常比替代方法耗时长

普遍偏爱非损耗法涉及使用干膜厚度或DFT格子

大都DFT系统gages操作基于二大测量原理之一,可判定薄膜对金属基质应用的厚度

选择测量原理取决于基底是否为“有色化”,含铁并典型显示磁性特征(见钢)或表示缺铁非磁性特征的“有色化特征”(见铝)。

选择干膜厚度计通常与基底性质一致,无论是有色或有色多可用格子都包含测量原理,允许测量任何类型金属基质

非元基数DFT测量

测量非金属子串(如塑料)干膜厚度更富挑战性假设不同类型格子对非损耗膜厚度测试至关紧要

PosiTector使用声纳近似声纳原则测量干膜厚度声波传递物量测量反射声波遇上密度不同物时反射变化,表示Gage达基或不同涂层类型

使用此原理,PosiTerctor可测量非金属子串广谱面薄度不同于典型DFT格子,它甚至可以辨别不同层层涂层,并同时测量最大三层厚度

应用实例

说明式假想应用保护清晰汽车头灯.防风破损保持清晰塑料对确保无阻光束至关重要

实现此目标需要用规定厚度清晰大衣-厚度足以维护涂层保护性-薄度足以保持涂层平滑透明

鉴于涂层应用清除塑料而非金属,传统DFT格格不合适测试显示PosiTerctor有效精确测量清晰大衣厚度,消除拆卸产品测量需求

工具通过快速测量不仅节省时间,而且还通过预防产品浪费促进成本节约

非描述性干膜宽度测量技术非元子串

图片感想:PaulN加德纳公司

亚博网站下载这些资料取自Paul N提供的材料并经过审查修改加德纳公司

详情请访问保尔N加德纳公司

引用

请求使用下列格式之一在论文、论文或报表中引用此文章

  • APA系统

    保尔N加德纳公司2023年12月05非描述性干膜宽度测量技术非元子串AZOM2024年1月5号检索网站s/www.washintong.com/article.aspx

  • yl

    保尔N加德纳公司非描述性干膜测深技术非元子串AZOM.2024年1月5日 .

  • 芝加哥

    保尔N加德纳公司非描述性干膜测深技术非元子串AZOM//www.washintong.com/article.aspx?ArticleID=23178.2024年1月5号访问

  • 哈佛

    保尔N加德纳公司2023非描述性干膜宽度测量技术非元子串.AZOM查看2024年1月5日,//www.washintong.com/article.aspx

告诉我们你的想法

是否有复习更新或任何想添加到此文章中

留下反馈
批注类型
提交